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Inline Final 光(guāng)學測試系統

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所屬分(fēn)類 : 畫(huà)面缺陷AOI檢測
零售價
0.0

本設備适用于Micro OLED産品光(guāng)學測試AOI缺陷測試及AVI外觀缺陷檢測;
設備組成: 光(guāng)學檢測單元、 運動單元、視覺對位單元、畫(huà)面檢測單元、外觀檢測單元;
對應産品屏解析度: 最高4K,兼容尺寸0.2inch~3inch;檢測精度:0.8um;
針對檢測後不良程度進行自(zì)動分(fēn)揀下料;
系統設計(jì)采用先進科(kē)技,經客戶驗證,運行品質良好,控制系統采用的執行元件(jiàn)應具備高精度、高可(kě)靠性和反應迅速的特點。

功能
針對切割後的Die組裝爲成品後做最終點燈/光(guāng)學測試

規格
人(rén)工(gōng)自(zì)動上下料,全自(zì)動測試
測試治具-Pogo PIN探針接觸(連接頭材質PEEK,接觸壽命>10000次)
連接頭形狀-依據客戶産品定制化
搭載4300M CCD 和5倍放(fàng)大(dà)鏡頭,支持8K分(fēn)辨率,支持子像素1.2um
搭載Klein Instrument CA-小尺寸測試探頭,支持色度和亮度測試
支持點燈畫(huà)檢/光(guāng)學檢測/gamma Tuning/OTP/MTP/demura
主動防震台,支持VC-D/F等級
支持産品等級分(fēn)類
支持CIM&MES系統整合

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熱(rè)門(mén)産品

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高速清洗機(jī)
激光(guāng)膜切分(fēn)條一體(tǐ)機(jī)
外觀檢測AVI~半導體(tǐ) (Wafer外觀檢測)
Offline FT光(guāng)學測試系統(AOI&AVI/OTP 測試)
Inline Final 光(guāng)學測試系統
三軸光(guāng)學測試系統(Lifetime)
AOI光(guāng)學系統
MIPI信号 TY-PG101
LVDS/V-BY-ONE信号 TY-PG102

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