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Offline FT光(guāng)學測試系統(AOI&AVI/OTP 測試)

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所屬分(fēn)類 : 畫(huà)面缺陷AOI檢測
零售價
0.0

特點:
Micro OLED離(lí)線光(guāng)學測試系統,0.2-3inch;
自(zì)動運動控制;
手動産品上下料,自(zì)動對位,手動壓接、自(zì)動測試;
采用快(kuài)速多功能夾具,支持多種型号産品,快(kuài)速切換;
多儀器搭載,支持AOI與光(guāng)學;
支持不同溫度點gamma調整,燒錄;
支持wafer 點線面缺陷測試,光(guāng)學特性測試;
支持不同尺寸TEG片開發階段測試;

 

項目

規格

尺寸

長*寬*高:1.98m*2.08m*2.00m

測試樣品大(dà)小

0.39inch~3inch,8”&12”wafer

彩色分(fēn)析儀

CA402,探頭測量口徑約2 mm。探頭采用專用的光(guāng)學系統與算法,确保在超低亮度與小尺寸測量的條件(jiàn)下仍可(kě)準确測量

相(xiàng)機(jī)

1、AOI相(xiàng)機(jī)4300萬,高分(fēn)辨率CCD。

運動系統

采用高精度伺服電機(jī),高精度滾珠螺杆,

功能

色度、亮度、均勻性、、光(guāng)譜測試等

支持:點、線、面缺陷測試,Mura測試。

信号

支持特儀制制型号機(jī)以及市面通用品牌信号機(jī),支持客制化化信号,信号格式:TTL/LVDS/MIPI/HDMI/edp/2K&4K&8K等

電源

支持高精度多路(lù)直流電源輸出,以及客制化電源需求。

軟件(jiàn)

特儀自(zì)主開發之軟件(jiàn),全中文版,C#編程模塊化,操作(zuò)簡單,UI界面可(kě)依據客戶需求進行定制,軟件(jiàn)自(zì)帶各标準測試手法,可(kě)以通過直接調用模式進行測試。

 

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