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所屬分(fēn)類 : 畫(huà)面缺陷AOI檢測
零售價
0.0
元

 

項目 規格要求
基本功能 1)檢測方式爲CCD檢測方式
2)本設備須有設置Module産品載入、載出的Pallet治具,以提供給産品定位
放(fàng)置,及提供PG信号注入點燈排線,讓産品點燈完成;
3) Module 産品畫(huà)面檢測明細:
CELL:點異物、刮傷、面污、線、畫(huà)異
BLU:亮點異物、刮傷、污漬、Mura、色斑、色漏光(guāng)、線缺失等;
POL: POL異POL 氣泡等Defect現象檢出;
4)檢出異常的産品,須保留異常照(zhào)片和Panel ID便于查詢,檢測結果需有上報
CIM功能,結果異常時,需立即停機(jī)或帶Flag至下流設備,由FI人(rén)工(gōng)複判站(zhàn)
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外觀檢測AVI~半導體(tǐ) （Wafer外觀檢測）
Offline FT光(guāng)學測試系統（AOI&AVI/OTP 測試）
Offline FT光(guāng)學測試系統（AOI&AVI/OTP 測試）
Inline Final 光(guāng)學測試系統
三軸光(guāng)學測試系統（Lifetime）
三軸光(guāng)學測試系統（Lifetime）
AOI光(guāng)學系統
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